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我們提供如下檢測服務：

（1）       電子封裝件在溫度循環(huán)過程中的熱機械變形測試（影像云紋法，云紋干涉法等）；

（2）       電子封裝件內(nèi)部缺陷無損檢測（超聲顯微鏡，紅外熱像）；

（3）       SiC以及硅晶圓中的殘余應力測試；

（4）       封裝材料的力學性能測試；

（5）       大尺寸玻璃/石英的殘余應力/應力雙折射測試；

（6）       （力-熱-電載荷下）掃描電鏡原位測試；

（7）       有限元靜/動態(tài)應力分析;